指被控侵權對象應包含經解析後的發明或新型專利之請求項的每一技術特徵，無論是相同的技術特徵或均等的技術特徵，被控侵權對象始可能構成侵權〔參專利侵權判斷要點（105年版），第一篇第三章4.2.2〕。
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